我國環(huán)境試驗國標目錄

　　01 GB/T 9384-1997 廣播收音機、廣播電視接收機、磁帶錄音機、聲頻功率放大器(擴音機)的環(huán)境試驗要求和試驗方法

　　02 GB/T 9359-2001 水文儀器基本環(huán)境試驗條件及方法

　　03 GB/T 5170.9-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#太陽輻射試驗設備

　　04 GB/T 5170.8-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#鹽霧試驗設備

　　05 GB/T 5170.5-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#濕熱試驗設備

　　06 GB/T 5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#溫度試驗設備

　　07 GB/T 5170.1-1995 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#總則

　　08 GB/T 5170.11-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#腐蝕氣體試驗設備

　　09 GB/T 5170.10-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法#高低溫低氣壓試驗設備

　　10 GB/T 2424.25-2000 電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分：試驗導則地震試驗方法

　　11 GB/T 2424.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則

　　12 GB/T 2424.17-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#錫焊試驗導則

　　13 GB/T 2424.14-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#太陽輻射試驗導則

　　14 GB/T 2423.9-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱

　　15 GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落

　　16 GB/T 2423.7-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ec和導則：傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)

　　17 GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Eb和導則：碰撞

　　18 GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ea和導則：沖擊

　　19 GB/T 2423.51-2000 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗

　　20 GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

　　21 GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fe：振動──正弦拍頻法

　　22 GB/T 2423.48-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ff：振動──時間歷程法

　　23 GB/T 2423.47-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fg：聲振

　　24 GB/T 2423.46-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ef：撞擊#擺錘

　　25 GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Z/ABDM：氣候順序

　　26 GB/T 2423.44-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Eg：撞擊#彈簧錘

　　27 GB/T 2423.43-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#元件、設備和其他產品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(Fc和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學試驗中的安裝要求和導則

　　28 GB/T 2423.42-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

　　29 GB/T 2423.41-1994 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程#風壓試驗方法

　　30 GB/T 2423.40-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

　　31 GB/T 2423.30-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導則：在清洗劑中浸漬

　　32 GB/T 2423.29-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件強度

　　33 GB/T 2423.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射

　　34 GB/T 2423.23-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#試驗Q：密封

　　35 GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

　　36 GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液)

　　37 GB/T 2423.16-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉

　　38 GB/T 2423.15-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度

　　39 GB/T 2423.14-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fdc：寬頻帶隨機振動──低再現性

　　40 GB/T 2423.13-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fdb：寬頻帶隨機振動──中再現性

　　41 GB/T 2423.12-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fda：寬頻帶隨機振動──高再現性

　　42 GB/T 2423.1-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

　　43 GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fd：寬頻帶隨機振動──一般要求

　　44 GB/T 2423.10-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Fc和導則：振動(正弦)

　　45 GB/T 2422-1995 電工電子產品環(huán)境試驗#術語

　　46 GB/T 2421-1999 電工電子產品環(huán)境試驗 第1部分：總則

　　47 GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法

　　48 GB/T 15211-1994 報警系統(tǒng)環(huán)境試驗

　　49 GB/T 13951-1992 移動式平臺及海上設施用電工電子產品#環(huán)境試驗一般要求

　　50 GB/T 13543-1992 數字通信設備環(huán)境試驗方法